联想嵌入式二面（base 上海）

《面试题目》

1. 详细讲一下你实习做了哪些驱动，跑在什么硬件平台，分别解决了什么问题？
2. 实习过程中发现过哪些问题？是怎么排查的？用了哪些调试方式？
3. ADC 的工作原理是什么？
4. 你对 AI 提效怎么看？具体是怎么实现的？给你一个场景，你会怎么迁移？

《参考解析》

1. 讲驱动实习要带上下文：面试官问的「什么硬件平台、解决了什么问题」，是想确认你理解自己代码所处的整条链路。可以按「平台（主控型号、内核、外设接口）→ 驱动类型（字符设备还是平台设备、对接哪个子系统）→ 上层怎么用 → 解决了什么具体问题（性能、稳定性、兼容性）」来说，并准备一个能讲到底层的点，比如寄存器配置、时序、中断与 DMA 的配合、并发与锁的粒度。

2. 排查手段要分层次报：先看现象分类（必现还是偶发、单板还是批量、上电即挂还是跑一段时间挂），再选工具——电气层面用万用表和示波器看电平与时序、逻辑分析仪抓 SPI/I2C/UART 波形；软件层面用 SWD 单步与断点、寄存器与时钟树核对（很多「外设不工作」其实是时钟没使能或引脚复用配错）、分级日志、以及读复位原因寄存器判断是不是看门狗复位。系统层面的问题用二分法缩小范围、构造最小复现工程，比在完整工程里瞎改快得多。回答时把「怎么定位到根因」讲清楚，比罗列工具名更有说服力。

3. ADC 的工作原理：MCU 里最常见的是逐次逼近型（SAR）。一次转换分三步：采样阶段由采样开关给内部采样电容充电，电压跟随输入；保持阶段断开开关、把电压锁在电容上；转换阶段从最高位开始，用内部 DAC 逐位生成比较电压与输入比较，逐位确定 0 或 1，N 位分辨率需要 N 次比较。要一起说清的参数：参考电压决定量程，分辨率是 Vref/2^N，量化误差约 ±1/2 LSB；采样时间必须足够让采样电容充满，信号源阻抗大时要加长采样时间或加电压跟随器，否则读数偏低；输入电压不能超出范围，必要时加钳位保护。工程上常用多通道扫描配 DMA 搬运、过采样求平均提升有效位数，以及上电做一次校准。

4. AI 提效：先找对场景，再谈迁移：判断一个环节值不值得用 AI，看四点——输入输出是否明确、规则或判断标准是否可描述、重复度是否高、结果是否可校验。日志归类、测试用例与用例数据生成、寄存器配置代码生成、需求文档转检查清单这类工作，容错高、有明确验收标准，适合先做；涉及安全判断、硬件时序、不可逆操作的环节，只能做辅助、保留人工复核。迁移到新场景时，先花时间把该场景的输入输出样本和验收标准梳理出来（这步通常比调模型更花时间），再用小样本跑一版对照人工基线，能量化出节省的时间再谈铺开。